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奧氏體晶粒度的測定方法
  發(fā)布時間:2022年08月08日 點擊數:

  奧氏體是鋼材在高溫時的一種組織,冷卻到室溫后,奧氏體組織發(fā)生了轉變,如何在室溫下條件下,對原奧氏體的晶粒度進行測定?在國家檢測標準GB 6394—2017《金屬平均晶粒度測定方法》規(guī)定可使用滲碳法、氧化法、網狀鐵素體法、網狀珠光體(屈氏體)法、網狀滲碳體法以及晶粒邊界腐蝕法等。今天我們就奧氏體晶粒度的這些測定方法詳細的為大家介紹一下。

  01奧氏體晶粒度測定方法——滲碳法

  滲碳法適用于測定滲碳鋼的奧氏體晶粒度。具體步驟是,首先將試樣裝入盛有滲碳劑的容器中,送入爐中加熱到930±10℃,并保溫6h,使試樣上有1mm以上的滲碳層,并使其表層具有過共析成分。然后進行緩冷,緩冷到足以在滲碳層的過共析區(qū)的奧氏體晶界上析出滲碳體網。試樣冷卻后經磨制和腐蝕,顯示出過共析區(qū)奧氏體晶粒形貌。供進行晶粒度檢驗的試樣,通常從3%~4%硝酸酒精溶液、5%苦味酸酒精溶液、沸騰的堿性苦味酸鈉溶液(2g苦味酸、25g氫氧化鈉、100mL水)這三種腐蝕劑中選用一種進行浸蝕。

  02奧氏體晶粒度測定方法——氧化法

  氧化法是利用氧原子在高溫下向晶內擴散而晶界優(yōu)先氧化的特點來顯示奧氏體晶粒大小。氧化法又分氣氛氧化法和溶鹽氧化浸蝕法。一般采用氣氛氧化法。試樣經拋光后,將拋光面朝上置于空氣加熱爐中加熱,保溫1h,然后水冷。根據氧化情況,可將試樣適當傾斜10°~15°進行研磨和拋光,使試樣檢驗面部分區(qū)域保留氧化層,直接在顯微鏡下測定奧氏體晶粒度。為了顯示清晰,可用15%鹽酸酒精溶液進行浸蝕。此外,也可將拋光的試樣在真空中加熱并保溫,然后置于空氣中冷卻或緩冷,使晶界氧化,同樣進行上述處理后測定奧氏體晶粒大小,這種方法稱為真空法。

  03奧氏體晶粒度測定方法——網狀鐵素體法

  網狀鐵素體法適用于碳質量分數為0.25%~0.60%的碳素鋼和碳質量分數為0.25%~0.50%的合金鋼。若無特殊規(guī)定,加熱溫度的選擇同氧化法,至少保溫30min,然后空冷或水冷。經磨制和浸蝕,便顯示出沿原奧氏體晶界分布的鐵素體網。對于碳質量分數較高的碳素鋼試樣和碳質量分數超過0.40%的合金鋼試樣,需要調整冷卻方式,以便在奧氏體晶界上析出清晰的鐵素體網。此時建議將試樣在淬火溫度下保持至少30min,后使溫度降至730±10℃停留10min,隨后淬油或淬水。試樣再經磨制和浸蝕,便可顯示出沿原奧氏體晶界分布的鐵素體網。通常,可用下列腐蝕劑之一種進行浸蝕:3%~4%硝酸酒精溶液和5%苦味酸酒精溶液。

  04奧氏體晶粒度測定方法——網狀滲碳體法

  適用過共析鋼(碳質量分數一般高于1.0%)。如果無特殊規(guī)定,試樣均在820±10℃加熱,并至少保溫30min,然后隨爐緩慢冷卻到低于下限臨界溫度,以便在奧氏體晶界上析出滲碳體網。試樣經磨制和浸蝕后,便顯示出沿晶界析出滲碳體網的原奧氏體晶粒形貌。此時,同樣可用上述浸蝕劑之一種進行浸蝕。

  05奧氏體晶粒度測定方法——網狀珠光體(屈氏體)法

  對于使用其它方法不易顯示的共析鋼,可選用適當尺寸的棒狀試樣進行局部淬火,即將加熱后的試樣一端淬入冷水中冷卻,另一端暴露于空氣中,因此,這就存在著一個不完全淬硬的小區(qū)域。在此區(qū)域內原奧氏體晶界將有少量細珠光體(團狀屈氏體)呈網絡顯示出原奧氏體晶粒形貌。這一方法可用于比共析成分稍高或稍低的某些鋼種。浸蝕試樣的腐蝕劑與上述相同。

  06奧氏體晶粒度測定方法——晶粒邊界腐蝕法

  對于直接淬火硬化鋼,可采用此法顯示原奧氏體晶粒。如果無特殊規(guī)定,其加熱溫度和保溫時間同氧化法。加熱保溫后,以能夠產生完全淬硬的冷卻速度進行淬火,獲得馬氏體組織。試樣經磨制和浸蝕后,便可顯示出完全淬硬為馬氏體的原奧氏體晶粒形貌。為了清晰顯示晶粒邊界,浸蝕前可將試樣在550±10℃下回火1h。常用的浸蝕劑是飽和苦味酸水溶液加少量環(huán)氧乙烷聚合物。

 

                                                                                                               文章摘自:熱加工論壇